公开/公告号CN103943558B
专利类型发明专利
公开/公告日2016-09-21
原文格式PDF
申请/专利权人 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司;
申请/专利号CN201410174849.0
申请日2014-04-28
分类号
代理机构无锡市大为专利商标事务所(普通合伙);
代理人曹祖良
地址 214135 江苏省无锡市新区菱湖大道200号中国传感网国际创新园D1栋
入库时间 2022-08-23 09:47:38
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-09-21
授权
授权
2014-08-20
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/768 申请日:20140428
实质审查的生效
2014-07-23
公开
公开
机译: 氧化物层形成半导体器件存储节点接触孔的方法,以解决间隙填充问题,并在沉积氧化物层后不进行额外的CMP工序的情况下进行平坦化工艺
机译: 半导体器件的制造涉及在平坦化的铜层上形成包括氧化ha的保护层,该平坦化的铜层是通过在绝缘层上以沟槽图案沉积铜而形成的
机译: 集成的高密度等离子体化学气相沉积(HDP-CVD)方法和化学机械抛光(CMP)平坦化方法,用于形成图案化的平坦化孔径填充层