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一种激光粒度仪以及激光粒度测试系统

摘要

本实用新型提供一种激光粒度仪以及激光粒度测试系统,该激光粒度仪包括:激光器,用于发射激光束;物料池,用于承载待检测物料;半透半反射镜,用于进行分光;以及探测组件,探测组件包括一大颗粒探测组件和一小颗粒探测组件,分别设置于半透半反射镜的反射面和透射面,用于收集大颗粒散射的小角度光信号和小颗粒散射的大角度光信号。本实用新型的激光器发出入射光源,照射在物料池里的待测样品上,待测样品对入射光束产生散射作用,经过物料池之后的平行光由半透半反射镜分成两束,分别进入大颗粒探测组件和小颗粒探测组件,其中大颗粒探测组件接收小角度光信号,小颗粒探测组件接收大角度光信号,扩大激光粒度仪测量的粒度分布范围。

著录项

  • 公开/公告号CN215812268U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2022-02-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 派尼尔科技(天津)有限公司;

    申请/专利号CN202120793634.2

  • 发明设计人 华平壤;张绘平;

    申请日2021-04-17

  • 分类号G01N15/02(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 300000 天津市滨海新区天津经济技术开发区黄海路276号泰达中小企业园2号楼602

  • 入库时间 2022-08-23 04:42:50

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