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一种测量亚微米至纳米粒度段粒度分布的激光粒度仪

摘要

一种测量亚微米至纳米粒度段粒度分布的激光粒度仪,包括激光光源装置、样品测试窗口(3)、散射信号接收装置(4)及与之电连接的信号处理系统(5),激光光源装置包括第一激光器(1)和第二激光器(2);散射信号接收装置是由(14)组光电探测器按照一定的规律排列,可以接收来自样品测试窗口中心固定角度的散射信号,该系统可以将来自样品测试窗口中心15°~130°的散射信号完整的接收并传输至计算机,计算机根据MIE散射理论可以计算出量程在0.05μm~1μm范围内所测样品的粒度分布图。

著录项

  • 公开/公告号CN104075966B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-07-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 济南微纳颗粒仪器股份有限公司;

    申请/专利号CN201410325383.X

  • 发明设计人 任中京;于代军;

    申请日2014-07-09

  • 分类号

  • 代理机构山东众成仁和律师事务所;

  • 代理人牟迅

  • 地址 250000 山东省济南市高新区大学科技园北区F座东二单元

  • 入库时间 2022-08-23 09:42:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-07-06

    授权

    授权

  • 2014-10-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/02 申请日:20140709

    实质审查的生效

  • 2014-10-01

    公开

    公开

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