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FinFET结构和用于调整FinFET结构中的阈值电压的方法

摘要

公开了FinFET结构和用于制造FinFET结构的方法。该方法包括对FinFET结构的栅极叠层执行氧退火处理以引起Vt漂移。在侧壁拉低之后以及在硅化之后执行氧退火处理。一种结构,其包含从半导体膜图案化的多个鳍结构。该结构还包含包覆在多个鳍结构周围的栅极叠层。该栅极叠层包含经受横向氧扩散以引起栅极叠层的Vt漂移的高k电介质材料。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-03

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/00 授权公告日:20160525 终止日期:20180914 申请日:20120914

    专利权的终止

  • 2017-12-01

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L21/00 登记生效日:20171113 变更前: 变更后: 申请日:20120914

    专利申请权、专利权的转移

  • 2017-12-01

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L21/00 登记生效日:20171113 变更前: 变更后: 申请日:20120914

    专利申请权、专利权的转移

  • 2017-12-01

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/00 登记生效日:20171113 变更前: 变更后: 申请日:20120914

    专利申请权、专利权的转移

  • 2017-12-01

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/00 登记生效日:20171113 变更前: 变更后: 申请日:20120914

    专利申请权、专利权的转移

  • 2016-05-25

    授权

    授权

  • 2016-05-25

    授权

    授权

  • 2016-05-25

    授权

    授权

  • 2014-07-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/00 申请日:20120914

    实质审查的生效

  • 2014-07-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/00 申请日:20120914

    实质审查的生效

  • 2014-07-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/00 申请日:20120914

    实质审查的生效

  • 2014-06-25

    公开

    公开

  • 2014-06-25

    公开

    公开

  • 2014-06-25

    公开

    公开

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