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掺杂氮的氧化镁内的电阻开关

摘要

掺杂氮的氧化镁(MgO)绝缘层呈现电压控制的电阻状态,如,高电阻状态和低电阻状态。100nm级的图案化纳米装置显示高的可再现开关特性。通过增加氮浓度,可有系统地降低此类装置在两个电阻电平之间切换的电压电平。同样地,通过改变氮浓度,可改变高电阻状态的电阻,和通过改变氮浓度几个百分比,可减少高电阻状态的电阻若干数量级。另一方面,低电阻状态的电阻则几乎不受氮掺杂程度的影响。通过限制在SET(设定)过程期间通过的电流,可在广泛范围中改变单一Mg50O50-xNx层装置的电阻。因而可建构相关的数据存储装置。

著录项

  • 公开/公告号CN102668085B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-04-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 国际商业机器公司;

    申请/专利号CN201080055451.5

  • 发明设计人 S.S.帕金;M.G.萨曼特;杨政翰;蒋信;

    申请日2010-09-21

  • 分类号H01L27/24(20060101);H01L45/00(20060101);G11C13/00(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人邸万奎

  • 地址 美国纽约阿芒克

  • 入库时间 2022-08-23 09:24:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-04-15

    授权

    授权

  • 2012-11-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/24 申请日:20100921

    实质审查的生效

  • 2012-09-12

    公开

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