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温度推定装置、等离子体处理系统、温度推定方法以及温度推定程序

摘要

本发明提供推定与进行等离子体处理的处理空间内的状态的变化对应的温度的温度推定装置、等离子体处理系统、温度推定方法以及温度推定程序。温度推定装置具有推定部,该推定部通过向生成完毕时间序列模型依次输入与进行等离子体处理的处理空间内的状态有关的新的时间序列的工艺数据而依次推定温度数据,其中,该生成完毕时间序列模型是将与上述处理空间内的状态有关的时间序列的工艺数据的各时间范围的数据与在该处理空间内测定出的时间序列的温度数据的各时间的数据建立关联的模型。

著录项

  • 公开/公告号CN114141658A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东京毅力科创株式会社;

    申请/专利号CN202111027548.1

  • 发明设计人 片冈勇树;长畑寿;

    申请日2021-09-02

  • 分类号H01L21/67(20060101);H01L21/3065(20060101);G05D23/20(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人金雪梅;王海奇

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-06-19 14:23:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-04

    公开

    发明专利申请公布

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