首页> 美国政府科技报告 >Development of Apparatus and Methods for Measurement of Creep to Temperature of 3500 Degrees F, Final rept.
【24h】

Development of Apparatus and Methods for Measurement of Creep to Temperature of 3500 Degrees F, Final rept.

机译:用于测量3500°F,最终温度的蠕变温度的装置和方法的开发。

获取原文

著录项

  • 作者

  • 作者单位
  • 年度 1950
  • 页码 1-196
  • 总页数 196
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 工业技术;
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号