一种抗硫化性能评价方法

摘要

本发明公开了一种抗硫化性能评价方法，包括如下步骤：将含银保护层的待测样品浸泡在硫脲溶液中，通过测试待测样品浸泡前后电性能的变化对所述待测样品的抗硫化性能进行评价。本发明克服了以硫化氢和硫磺为原料的电子元件银电极抗硫化性能评价方法存在的缺点，具有操作简便、所用原料毒性低、评价准确且快速等特点，特别适合厚膜片式电阻器、片式电容器和片式电感器的抗硫化性能的评价。