用于使用相关样本生成及高效统计模拟来计算时序良率及良率瓶颈的新颖方法

摘要

本发明公开用于确定参数时序良率及瓶颈的方法及设备的各种实施例，所述方法及设备通过设计中的集成电路芯片的共同时序弧考虑电路路径之间的相关性。时序弧延迟的蒙特卡罗样本经生成并用于计算时序良率且识别良率瓶颈。