首页> 中国专利> 基于掺杂(Si)GeSn有源区的CMOS技术兼容硅基光源器件及其制备方法

基于掺杂(Si)GeSn有源区的CMOS技术兼容硅基光源器件及其制备方法

摘要

本发明提供了基于掺杂(Si)GeSn有源区的CMOS技术兼容硅基光源器件及其制备方法。所述的基于掺杂(Si)GeSn有源区的CMOS技术兼容硅基光源器件包括Si衬底、n型缓冲层、n型下覆层、有源层、p型上覆层及SiN应力膜和n型、p型金属电极,所述有源层为掺杂的GeSn或SiGeSn有源层,所述掺杂的GeSn或SiGeSn有源层的掺杂类型为n型掺杂或p型掺杂,所述n型掺杂可为P(磷)掺杂或Sb(锑)掺杂,所述p型掺杂可为B(硼)掺杂。本发明能大幅提升器件发光效率,提升器件工作温度,降低阈值电流或能耗。

著录项

  • 公开/公告号CN113193089A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 湖南汇思光电科技有限公司;

    申请/专利号CN202110482973.3

  • 发明设计人 贾慧;唐明初;陈星佑;陈思铭;

    申请日2021-04-30

  • 分类号H01L33/34(20100101);H01L33/06(20100101);H01L33/00(20100101);

  • 代理机构43220 长沙市护航专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人莫晓齐

  • 地址 410005 湖南省长沙市岳麓山大学科技城岳麓街道科技创意园5栋238房

  • 入库时间 2023-06-19 12:02:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-24

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号