用于芯片电磁干扰测试的测试装置及测试方法

摘要

本发明涉及电磁干扰测试技术领域，提供一种用于芯片电磁干扰测试的测试装置及测试方法。所述测试装置包括：测试主板、信号发生器、耦合网络探头以及用于放置芯片的测试子板；所述测试子板包括与芯片的多个引脚对应连接的引出电路；所述耦合网络探头与引出电路和信号发生器连接，用于将信号发生器产生的电磁干扰信号传递至引出电路，以通过引出电路将电磁干扰信号引入芯片；所述测试主板与所述测试子板连接，用于获取芯片在所述电磁干扰信号的干扰下产生的信号数据。本发明通过将电磁干扰信号直接引入集成电路芯片，以准确评估芯片各个引脚的抗电磁干扰能力，为改进芯片内部电路设计提供参考，以提升芯片的抗电磁干扰能力。