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蒋玉茜; 王西国; 董攀;
北京中电华大电子设计有限责任公司;
北京;
100102;
射频识别芯片检测技术北京市重点实验室;
闪存; 耐久力; 应用场景; 可靠性测试;
机译:三维NAND闪存中读干扰热载体喷射的调查和紧凑型建模
机译:3-D充电陷阱NAND闪存中的保留相关读干扰误差:观察,分析和解决方案
机译:在闪存的读/写周期中缓解小区间干扰的受约束代码
机译:通过读干扰建模人工神经网络耦合LDPC ECC的3D-TLC NAND闪存中读热数据误差rrection
机译:粘塑性有限元模拟,以预测不同闪存芯片堆叠架构的焊点疲劳寿命。
机译:基于自适应总变化最小化的闪存和非闪存对图像增强
机译:一种新颖的门控反向读取方案,可控制深层拆分门SONOS闪存EEPROM单元中多位/单元操作的位耦合和读干扰
机译:在某些闪存芯片和含有它的产品的问题。调查编号337-Ta-664
机译:智能卡,芯片卡读/写器,芯片卡读/写器的主机,芯片卡系统和程序,以供在芯片卡系统中使用多个卖方
机译:具有存储芯片的读/写智能卡的设备及其数据安全方法,能够防止非法使用智能卡
机译:串行闪存中XIP的基于优先级的闪存存储控制装置,使用相同方法的内存管理方法以及基于相同方法的闪存芯片
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