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一种空间调制偏振成像检测像面长宽和像元长宽比的方法

摘要

本发明提供的是一种空间调制偏振成像检测像面长宽和像元长宽比的方法。其过程包括:A1,对中心波长为λ1的入射光进行空间调制偏振成像,得到包含偏振信息的干涉图像;A2,对干涉图像进行变换在频域中找到中心波长λ1窄带宽入射光的Stokes矢量被调制的位置的坐标;A3,通过入射光波长λ1与成像系统相关参数的关系可以计算出像元的平均长度;A4,分别计算出像元在行和列方向上的长度D1和D2;A5,通过D1和D2可以计算出成像相机整体在行和列上的长度,同时还能计算出像元的长宽比值,可以检测像元是否正确。本发明可用于相机像元尺寸的检测,可广泛用于成像设备制造检测等领域。

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  • 2022-07-12

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