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通过利用紫外线的激光结晶设施的Mura量化系统以及通过使用紫外线的激光结晶设施的Mura量化方法

摘要

本发明涉及Mura量化系统与方法,即,通过包括激光结晶装置的激光结晶设施实施的Mura量化系统,其中Mura量化装置设置在激光结晶设施中,使得基板通过激光结晶装置结晶,并且当结晶基板移动时利用紫外线源实时进行Mura量化,以及通过激光结晶设施的Mura量化方法。

著录项

  • 公开/公告号CN106206372A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-12-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 AP系统股份有限公司;

    申请/专利号CN201610371257.7

  • 申请日2016-05-30

  • 分类号H01L21/67(20060101);H01L21/66(20060101);H01L21/268(20060101);

  • 代理机构11332 北京品源专利代理有限公司;

  • 代理人杨生平;刘晓玲

  • 地址 韩国京畿道华城市

  • 入库时间 2023-06-19 01:03:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/67 申请日:20160530

    实质审查的生效

  • 2016-12-07

    公开

    公开

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