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一种基于电磁散射理论的反射面天线表面误差的反演方法

摘要

本发明公开了一种基于电磁散射理论的反射面天线表面误差的反演方法,其整体思路是:首先测量反射面天线反射面板的表面误差,得到表面误差的测试数据,然后根据表面误差的实测数据建立表面误差分形模型,接下来根据分形模型计算表面误差的源项与谱振幅,再根据源项与谱振幅计算得到表面误差的反演模型,最后实现反射面天线表面误差的准确描述。本发明的有益之处在于:根据天线表面的实测数据建立表面误差初始分形模型,确保了反演模型数据来源的准确性;反演过程中根据初始模型计算面板的源项与谱振幅,通过源项和谱振幅得到表面误差的反演模型,确保了反演过程的准确性,为提高反射面面板表面误差描述的精度与效率奠定了基础。

著录项

  • 公开/公告号CN104809193A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-07-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201510195472.1

  • 申请日2015-04-22

  • 分类号

  • 代理机构北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人郭官厚

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路二号

  • 入库时间 2023-12-18 10:12:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-05

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06F17/30 申请公布日:20150729 申请日:20150422

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2015-08-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/30 申请日:20150422

    实质审查的生效

  • 2015-07-29

    公开

    公开

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