公开/公告号CN104737394A
专利类型发明专利
公开/公告日2015-06-24
原文格式PDF
申请/专利权人 住友电气工业株式会社;
申请/专利号CN201380053924.1
发明设计人 高木慎平;
申请日2013-07-24
分类号
代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司;
代理人权太白
地址 日本大阪府大阪市
入库时间 2023-12-18 09:38:21
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-05-08
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01S5/343 申请公布日:20150624 申请日:20130724
发明专利申请公布后的视为撤回
2015-07-22
实质审查的生效 IPC(主分类):H01S5/343 申请日:20130724
实质审查的生效
2015-06-24
公开
公开
机译: III族氮化物半导体激光元件,III族氮化物半导体激光元件的制造方法,III族氮化物半导体激光元件的光腔端面的评价方法,划线划痕的评价方法
机译: III族氮化物半导体激光元件,III族氮化物半导体激光元件的制造方法,III族氮化物半导体激光元件的光共振器的端面的评价方法,划线划痕的方法
机译: 第III族氮化物激光元件,第III族氮化物激光元件制造方法,第III族氮化物激光元件的光学谐振器的端面测量方法以及刻度线的评价方法