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一种高饱和磁化强度的Si基稀磁半导体的制备方法

摘要

一种高饱和磁化强度的Si基稀磁半导体的制备方法,其步骤包括:⑴对Si单晶基体样品进行过渡族金属离子注入;⑵在保护气氛中将上述步骤⑴得到的样品快速热退火;⑶对上述步骤⑵得到的样品进行零族离子注入。其优点是:利用本发明可以获得居里温度(Tc)高于室温的Si基稀磁半导体材料,且该Si基稀磁半导体材料的饱和磁化强度有大幅提升,其饱和磁化强度为单束注入法获得的Si基稀磁半导体的饱和磁化强度的2.5-6倍。

著录项

  • 公开/公告号CN102605432A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-07-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉大学;

    申请/专利号CN201210106104.1

  • 发明设计人 郭立平;陈济鸿;李铁成;罗凤凤;

    申请日2012-04-12

  • 分类号

  • 代理机构武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人薛玲

  • 地址 430072 湖北省武汉市武昌珞珈山武汉大学

  • 入库时间 2023-12-18 06:08:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-05-13

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01F1/40 申请公布日:20120725 申请日:20120412

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-09-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):C30B31/22 申请日:20120412

    实质审查的生效

  • 2012-07-25

    公开

    公开

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