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变磁激励条件下金属裂纹扩展的磁性在位检测方法

摘要

本发明涉及一种铁磁材料金属裂纹扩展的在位检测方法与装置,属于金属损伤和疲劳过程无损检测技术领域。该方法采用微型霍尔器件制成阵列式传感器,利用可以调节的磁场激励信号,针对不同的铁磁材料,采用合适的激励方式,去除杂散磁场的干扰,以获得最佳的检测效果。采用阵列式探头、无需移动检测机构,利用铁磁材料裂纹扩展时的微弱磁信号异常变化信息,来实现裂纹扩展的实时在位检测,具有非接触、检测效率高、简单方便、成本较低等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN102539518A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-07-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN201110336447.2

  • 申请日2011-10-31

  • 分类号G01N27/83;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号

  • 入库时间 2023-12-18 05:51:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-05-13

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N27/83 申请公布日:20120704 申请日:20111031

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-09-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/83 申请日:20111031

    实质审查的生效

  • 2012-07-04

    公开

    公开

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