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公开/公告号CN101124661A
专利类型发明专利
公开/公告日2008-02-13
原文格式PDF
申请/专利权人 应用材料公司;
申请/专利号CN200580015078.X
发明设计人 古彬西;格拉多·戴戈迪诺;叶雁;迈克·明·余·陈;
申请日2005-05-09
分类号H01L21/302;B44C1/22;H01L21/461;C03C15/00;C03C25/68;C23F1/00;
代理机构北京东方亿思知识产权代理有限责任公司;
代理人赵飞
地址 美国加利福尼亚州
入库时间 2023-12-17 19:49:57
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2009-09-09
发明专利申请公布后的视为撤回
2008-04-09
实质审查的生效
2008-02-13
公开
机译: 使用碳氟化合物中的蚀刻气体,已增强了等离子体蚀刻方法的磁性
机译: 在氟化碳蚀刻化学中使用H2添加剂掺杂碳的SI氧化物蚀刻
机译: 在碳氟化合物气体化学中使用含氢添加剂气体蚀刻二氧化硅的弓形减小机理和临界尺寸控制
机译:在使用SF6,C4F8和O-2等离子体蚀刻多晶硅和碳氟化合物聚合物期间,底部和侧壁蚀刻速率对偏置电压和源功率的依赖性
机译:使用碳氟化合物气体等离子体进行厚介电膜蚀刻期间,金属氮化物-氧化物-硅-场效应晶体管的电荷泵电流增加的机理
机译:在碳氟化合物等离子体中进行SiO_2蚀刻期间,在侧壁上重新沉积蚀刻产物。五,等离子气体中碳/氟比的影响
机译:同时在硅上进行多层等离子体蚀刻和碳氟化合物层沉积
机译:在感应耦合等离子体反应器中研究碳氟化合物沉积和蚀刻对硅和二氧化硅蚀刻工艺的影响(使用三氟化甲基),并开发了用于研究等离子体与表面相互作用机理的反应离子束系统。
机译:使用18F标记的碳氟化合物11调查人和大鼠中吸入的碳氟化合物的结局
机译:使用傅里叶变换红外椭圆仪研究在射频偏置感应耦合碳氟化合物等离子体中蚀刻的硅基板的表面化学性质
机译:用于模拟硅氧烷和相关材料的碳氟化合物等离子体蚀刻的化学反应机制