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公开/公告号CN1993609A
专利类型发明专利
公开/公告日2007-07-04
原文格式PDF
申请/专利权人 韩国标准科学研究院;
申请/专利号CN200580025743.3
发明设计人 朴丙天;郑基永;宋元永;洪在完;吴范焕;安商丁;
申请日2005-07-01
分类号G01N13/10;
代理机构北京市柳沈律师事务所;
代理人陶凤波
地址 韩国大田广域市
入库时间 2023-12-17 18:50:31
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2011-08-10
授权
2007-09-26
实质审查的生效
2007-07-04
公开
机译: 扫描探针显微镜及其制造方法,以及使用该扫描探针显微镜的包括探针和分子加工方法的扫描探针显微镜
机译: 用于扫描探针显微镜的纳米管探针,其制造方法和扫描探针显微镜
机译:使用新的扫描模式和对准的碳纳米管扫描探针显微镜尖端进行临界尺寸测量
机译:用于电扫描探针显微镜的纳米压印金属探针演示器的制造,表征和应用
机译:用于扫描探针显微镜的纳米探针的仿真辅助设计和制造
机译:一种基于扫描探针显微镜在聚合物膜中纳米线扫描探针显微镜的新方法
机译:使用扫描探针显微镜在硅表面上表征和制造纳米级和微米级结构。
机译:通过基于扫描探针显微镜的光刻技术制造的双侧栅无结晶体管的收缩机制
机译:通过剥离技术制造纳米级Bi Hall传感器,用于扫描探针显微镜
机译:碳纳米管尖端探针:扫描探针显微镜中的稳定性和横向分辨率以及半导体表面科学的应用