内嵌非易失存储器的系统集成芯片的安全测试方法

摘要

本发明公开了一种内嵌非易失存储器(NVM)的系统集成芯片(SOC)的安全测试方法，通过一个测试模式检测判断逻辑检测内嵌NVM特定地址上的数据来实现测试模式的切换，该内嵌NVM特定地址在用户模式下不可访问，当测试完成时，对内嵌NVM特定地址写入指定的模式设置数据，芯片的测试模式逻辑电路检测到该数据后，则立即将芯片切换到用户模式下，切断内部模块的测试通路，使芯片进入普通用户模式，从而实现内部电路模块的访问禁止。为实现芯片测试模式的可重新进入，本发明还通过一个专用微处理指令将NVM内的模式设置数据擦除，同时擦除NVM的全部数据，以保护数据安全。