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基于转速调制的提高薄膜厚度均匀性的方法

摘要

本发明提供了基于转速调制的提高薄膜厚度均匀性的方法:将基片旋转圆周分为N个区域,使基片以不同的旋转速度通过N个区域,基片的旋转速度由基片所在区域的沉积速率决定。将此方法用于双轴旋转薄膜沉积中,对每周内转轴的转速进行调制,在几乎不降低薄膜沉积速率的情况下,可以进一步提高薄膜的厚度均匀性。

著录项

  • 公开/公告号CN1614077A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2005-05-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN200310110845.8

  • 申请日2003-11-04

  • 分类号C23C14/22;C23C14/54;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 610054 四川省成都市建设北路二段四号

  • 入库时间 2023-12-17 16:08:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-04-22

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2005-07-13

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-05-11

    公开

    公开

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