公开/公告号CN1368759A
专利类型发明专利
公开/公告日2002-09-11
原文格式PDF
申请/专利权人 联华电子股份有限公司;
申请/专利号CN01102903.X
发明设计人 林金隆;
申请日2001-02-07
分类号H01L21/768;H01L21/28;
代理机构北京市柳沈律师事务所;
代理人陶凤波
地址 台湾省新竹科学工业园区
入库时间 2023-12-17 14:27:51
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2004-12-15
授权
授权
2002-12-04
实质审查的生效
实质审查的生效
2002-09-11
公开
公开
2001-06-13
实质审查请求的生效
实质审查请求的生效
机译: 相移光学掩模和修正光学掩模中的缺陷的方法
机译: 用于校正光电掩模的方法,用于校正光电掩模的方法,用于制造带有阵列的光电掩模的方法以及用于制造显示装置的方法
机译: 用于相位缺陷校正的掩模校正光学系统,用于相位缺陷校正的掩模校正装置以及用于相位缺陷校正的激光CVD掩模校正装置