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包含α-Ta层的扩散阻挡层的制备方法以及复合扩散阻挡层

摘要

本发明提供了一种包含α‑Ta层的扩散阻挡层的制备方法,首先形成TaN层,并对TaN层进行惰性气体等离子体处理,然后在经惰性气体等离子体处理后的TaN层表面沉积Ta形成α‑Ta层。本发明还提供了一种铜互连的形成方法以及一种复合的扩散阻挡层。本发明的制备方法形成的扩散阻挡层包括TaN层以及低阻值的α‑Ta层,α相的Ta层能明显降低阻挡层的电阻值。本发明的制备方法以及铜互连方法可直接利用现有的装置,工艺简单,便于操作,易于工业化推广。

著录项

  • 公开/公告号CN110970349A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 长鑫存储技术有限公司;

    申请/专利号CN201811142728.2

  • 发明设计人 任兴润;王婷;汪雷;刘洋;何丹丹;

    申请日2018-09-28

  • 分类号

  • 代理机构北京律智知识产权代理有限公司;

  • 代理人王莹

  • 地址 230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室

  • 入库时间 2023-12-17 07:17:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/768 申请日:20180928

    实质审查的生效

  • 2020-04-07

    公开

    公开

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