一种糖膏颗粒粒度分析系统及分析方法

摘要

本发明公开了一种糖膏颗粒粒度分析系统及分析方法，首先制作糖膏颗粒样本，工业相机采集糖膏颗粒样本的图像，并将采集的结晶颗粒图像传送至控制器，控制器对接收的糖膏颗粒样本的图像进行畸变校正和去噪处理；对上步处理后的图像进行自适应阈值分割，得到糖膏颗粒的初始区域，采用距离变换、分水岭和阈值分割相结合的方法对粘连颗粒区域进行二次分割；对分割后的区域进行分类，识别晶体颗粒的状态是否正常，分别计算正常颗粒和不正常颗粒的周长、面积、粒径(包括周长径、面积径、长径、短径)等参数；统计分析结晶颗粒。该发明可以有效解决白砂糖生产中煮糖工艺流程下糖膏结晶状态的人工观测效率低、不可靠问题。