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一种对固体样品进行定量分析的方法

摘要

本发明公开一种对固体样品进行定量分析的方法,包括:将具有预定温度的微波等离子体直接作用于待测样品表面,获取待测样品的微波等离子体光谱;根据预先建立的支持向量机回归模型对所述待测样品的微波等离子体光谱进行预测,获取所述待测样品中目标元素的定量分析结果。本发明提供的技术方案,能够快速、准确地对固体样品进行定量分析。

著录项

  • 公开/公告号CN110389123A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 成都西奇仪器有限公司;

    申请/专利号CN201810350563.1

  • 发明设计人 段忆翔;牛广辉;

    申请日2018-04-18

  • 分类号

  • 代理机构成都高远知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人谢一平

  • 地址 611900 四川省成都市彭州工业开发区五贤路453号4栋1-2层

  • 入库时间 2024-02-19 14:03:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/73 申请日:20180418

    实质审查的生效

  • 2019-10-29

    公开

    公开

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