采用X射线衍射法对掺锡氧化铟粉进行物相分析的方法

摘要

本发明涉及化学物相分析技术领域，具体地指一种采用X射线衍射法对掺锡氧化铟粉进行物相分析的方法。该方法包括（1）试样制备（2）仪器设备与测试条件（3）测试条件（4）分析步骤（5）数据处理等步骤。本发明采用X射线衍射法对掺锡氧化铟粉进行物相分析的方法，用于掺锡氧化铟粉分析中，将得到的掺锡氧化铟粉样品X射线衍射数据与衍射的PDF卡片库中标准谱图进行比较进而确定样品中所含的物相成分。其操作简单可控，同时结果准确、可靠；可在此基础上，建立掺锡氧化铟粉物相分析行业标准，从而促进掺锡氧化铟粉行业的健康发展。