基于高光谱成像技术的猕猴桃表面缺陷快速无损识别方法

摘要

本发明公开了一种基于高光谱成像技术的猕猴桃表面缺陷快速无损识别方法，该方法包括以下步骤：利用高光谱图像采集系统采集一批完好无损猕猴桃和表面有缺陷猕猴桃样本的高光谱图像；对高光谱图像进行黑白校正，并通过掩膜处理以消除背景，使图像中仅含猕猴桃。同时，采用最小噪声分离变换对高光谱图像做进一步去噪处理。然后，分别提取猕猴桃正常区域以及表面缺陷区域的平均光谱，分析光谱曲线的特征。最后，采用阈值分割及数学形态学处理方法，先后分割提取出猕猴桃正常区域和表面缺陷区域。本发明通过高光谱成像技术，可快速、无损识别出表面有缺陷的猕猴桃。