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基于四次光强测量的Mueller型椭偏仪椭偏参数测量方法及装置

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本发明公开了一种基于四次光强测量的Mueller矩阵椭偏仪椭偏参数测量方法及装置，依序包括激光光源(1)、第一偏振片(2)、基底(4)、第二偏振片(5)、四分之一波片(6)和光强探测器(7)，所述激光光源(1)发出的光经过固定角度为45度的所述第一偏振片(2)入射到所述样本薄膜上(3)，经所述样本薄膜(3)反射后的出射光经所述第二偏振片(5)和所述四分之一波片(6)后进入所述光强探测器(7)；按照以下偏振态特征态T

著录项

公开/公告号CN109459138A

专利类型发明专利
公开/公告日2019-03-12

原文格式PDF
申请/专利权人天津大学;
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申请/专利号CN201811257436.3
发明设计人胡浩丰;刘铁根;李校博;
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申请日2018-10-26
分类号
代理机构天津市北洋有限责任专利代理事务所;
代理人李素兰
地址 300072 天津市南开区卫津路92号
入库时间 2024-02-19 06:44:48

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-04-05

实质审查的生效 IPC(主分类):G01J4/04 申请日:20181026

实质审查的生效
2019-03-12

公开

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