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机译:Rb-83寿命测量中的能带结构
NUCLEAR REACTION Ge-76(B-11; (4)n gamma); E=50 MeV; Rb-83; measured gamma-ray energies and intensities; gamma gamma-coincidences; DCO ratios; doppler shifts; deduced levels I-pi; band structure; comparison with particle-rotor-model calculations; HIGH-SPIN STATES; TRANSITION STRENGTHS; CORIOLIS ATTENUATION; ROTATIONAL BANDS; EXCITATIONS;
机译:Rb-83寿命测量中的能带结构
机译:〜(43)S中的寿命测量和三重共存能带结构
机译:DSA寿命测量和〜(120)Xe的奇偶校验带的结构
机译:InAs / GaSb应变层超晶格结构中的载流子寿命测量
机译:使用非接触热激励寿命测量来评估宽带隙半导体中的电子衰减。
机译:掺有稀土元素Er3 +的碲化物玻璃70TeO2-5XO-10P2O5-10ZnO-5PbF2(X = MgBi2Ti)的正电子ni没寿命光谱法测量缺陷结构
机译:I112中πG7/2⊗νH11/ 2旋转带中最低状态的寿命测量
机译:a = 190和a = 150区域的寿命测量和相同的sD频带