Materialien mit Mass: Referenzmaterialien fur die Oberflachen- und Schichtanalytik im Mikrometer- und Nanometerbereich

摘要

Jede Analyse von Materialeigenschaften basiert auf der Verwendung geeigneter Massstabe. Dies gilt auch fur die quantitative Analyse von Oberflachen und Schichten. Zur Kalibrierung und Funktionskontrolle der eingesetzten Pruf- und Analysengerate sowie zur Validierung der verwendeten Messverfahren, werden an der Bundesanstalt fur Materialforschung und -prufung (BAM) Referenzmaterialien fur die Oberflachen- und Schichtanalytik entwickelt und zertifiziert.