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MFMによる垂直磁気記録媒体の磁化状態の解析手法の検討

机译:MFM检测垂直磁记录介质磁化状态分析方法

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摘要

MFMによる垂直磁気記録媒体の磁化状態の解析を行ったところ,以下のことが明らかとなった.本実験では,磁性層表面一探針問距離zを50nm以下にすることで,スペーシングによる分解能の低下を抑えることができ,MFM解析による磁気クラスタ径はMRヘッド検出系の理論的推定法による結果とほぼ一致した.MFM像は直流磁化彼の時間経過により大きく変化する.すなわち,磁気クラスタの熱揺らぎ現象が見出された.MFM像の白と黒のコントラストの面積比と媒体の角型比との相関性は認められない結果となった.この不→致の要因は熱減磁作用が大きく寄与していると思われる.Co-Cr系垂直磁気記録媒体では磁気クラスタの熱揺らぎ現象を考慮に入れてMFM解析を行う必要がある.
机译:揭示了MFM垂直磁记录介质的磁化状态分析。 在该实验中,通过将磁性层表面设定一个探针Z至50nm或更小,可以抑制由于间隔引起的分辨率的降低,并且通过MFM分析的磁场直径是MR头检测系统的理论估计方法。几乎与结果相匹配。 MFM图像通过直流磁化他经过明显变化。 也就是说,发现了磁性簇的热摇摆现象。 不识别白色和黑色对比度的MFM图像与介质的拐角之间的相关性的相关性。 这种自由裁量因子似乎在很大程度上导致了热还原因子。 在基于CO-CR的垂直磁记录介质中,需要考虑MFM分析,以考虑磁性簇的热摇动现象。

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