フラックスゲートセンサを用いたSS400の欠陥断面形状の解析·評価

摘要

本研究では，欠陥の検知のみならず欠陥の断面形状や深さを定量的に評価するために，漏洩磁束探傷法と電磁逆解析を組み合わせた損傷解析·評価を行った。FGセンサで測定した漏洩磁束密度分布とTikhonovの手法［5，6］による逆解析とを用いて，欠陥近傍の漏洩磁束密度分布から具体的な欠陥断面形状，欠陥長さ，深さの同定を行った。