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電子機能解析研究分野

机译:电子机能解析研究分野

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摘要

本研究分野ではX線·中性子を使用して,物性の構造的起源(構造物性)についての研究活動を行っている.また,そのための計測技術の開発も有っている.2006年の研究活動としては,以下のように概括される.高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所,筑波大学,原子力機構およびその他のグループとの共同でパルス中性子を使用した単結晶構造解析の評価実験を行い,データの処理や逆格子の解析法および単結晶構造解析の方法論の開発を行った.これは,東海村に建設される次世代大型パルス(JTPARC)中性子実験施設に設置申請する装置を念頭に置いたものである.右図はKEK-KENS-Siriusに設置されている180°バンクと90° バンクに散乱されたYAGの回折像を示す.本質的にはLaue写真と同じであるが,中性子の飛行時間(Time of Flight)を測定できるので,回折中性子の波長が計測されている.
机译:在这个研究领域中,我们正在使用X射线和中子对物理性质的结构起源(结构性质)进行研究活动。为此目的,测量技术也在发展。 2006年的研究活动总结如下。筑波大学高能加速器研究机构材料结构科学研究所,原子能机构等进行了利用脉冲中子进行单晶结构分析,数据处理,逆晶格分析法和简单方法的评估实验我们已经开发出一种用于晶体结构分析的方法。考虑到将要在东海村建造的下一代大规模脉冲(JTPARC)中子实验设施中安装该设备。右图显示了在安装在KEK-KENS-Sirius中的180°堤和90°堤中散射的YAG的衍射图。它与劳厄(Laue)照片基本相同,但是由于可以测量中子的飞行时间,因此可以测量衍射中子的波长。

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