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【24h】

誘電特性を利用した食品加工プロセスの非破壊、連続測定

机译:利用介电特性对食品加工过程进行无损连续测量

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摘要

誘電特性の測定には,食品内部の物理的変化を直接観測できる利点がある.また,この測定方法では,非破壊,非接触,連続測定が可能である, 従つて,製造工程中の食品の誘電特性の変化を測定することができれば,加工中の食品の状態変化をリアルタイムで-モニターすることも可能となり,食品の品質管理や製造ラインの工程管理に有効な計測手法になる.また,HACCAP等に対応した金品製造工程の定量的な加工履歴のモニタリングも可能になるけ  一般に,食品の誘電特性はマイクロ波領域(GHz帯域)で測定されることが多い.これは,食品のマイクロ波加熱特性を明らかにすることを主な目的としているからである.本稿、では,低周波数領域(Hz~MHz)における食品の誘電特性に注目し,この誘電特性を利用した食品加工プロセスの非破壊、連続計測の事例を紹介する.
机译:介电性能的测量的优点是能够直接观察食物内部的物理变化。另外,由于该测量方法能够进行无损,非接触,连续的测量,因此,如果能够测量出食品在制造过程中的介电特性的变化,则可以实时地测量食品在加工过程中的状态变化。 -还可以进行监控,使其成为食品质量控制和生产线过程控制的有效测量方法。另外,可以监视与HACCAP等相对应的硬件制造过程的定量处理历史。通常,通常在微波区域(GHz波段)中测量食品的介电性能。这是因为主要目的是弄清食物的微波加热特性。在本文中,我们将重点放在低频区域(Hz至MHz)中的食品介电特性,并介绍使用这些介电特性对食品加工过程进行无损和连续测量的示例。

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