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机译:通过使用不同的供体部分进行结构调整,从WORM到闪存或DRAM调整内存性能
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机译:通过功能性聚酰亚胺中供电子萘胺部分的α和β取代来调节WORM到闪烁的电存储特性
机译:通过调整基于纳米晶体的电荷陷阱闪存单元中的(ZrO_2)_(0.6)(SiO_2)_(0.4)电荷陷阱层的微结构演变来增强存储性能
机译:含有电子给体和受体部分的电阻聚合物记忆材料
机译:基于HfO2的FeFET:即将接管DRAM或闪存的重新出现的技术
机译:客观潮热与中年女性的口头记忆表现负相关
机译:通过Os控制的数据刷新降低DRam /闪存系统的能量
机译:在以下问题中:某些探针卡组件,其组件以及某些经过测试的DRam和NaND闪存设备以及包含它们的产品。第337-Ta-621号调查