机译:EM算法用于指数分布下具有竞争风险的一次性测试
McMaster Univ, Dept Math & Stat, Hamilton, ON L8S 4K1, Canada;
McMaster Univ, Dept Math & Stat, Hamilton, ON L8S 4K1, Canada;
Hong Kong Inst Educ, Dept Math & Informat Technol, Hong Kong, Hong Kong, Peoples R China;
EM algorithm; Inequality constrained least squares; One-shot device; Competing risks; Masked data; Exponential distribution; ED01 Data;
机译:威布尔分布下具有竞争风险的一站式设备测试的EM算法
机译:竞争风险下具有指数寿命的一站式设备测试的贝叶斯方法
机译:指数分布下一次性测试设备的EM算法
机译:可靠性系统中的竞争风险模型,具有伽马前分配的指数分布模型,贝叶斯分析方法
机译:基于一般II类删失方案的指数分布线性函数的一类新的拟合优度检验
机译:基于高效响应分布的项目选择算法用于短时认知诊断计算机自适应测试
机译:指数分布下单次设备测试的强大估算器和测试统计
机译:竞争指数失效分布下的加速寿命试验