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机译:威布尔分布下具有竞争风险的一站式设备测试的EM算法
Department of Mathematics and Statistics, McMaster University, Hamilton, Canada;
Class-B insulation data; EM algorithm; Weibull distribution; competing risks; inequality constrained least-squares; masked data; one-shot device;
机译:EM算法用于指数分布下具有竞争风险的一次性测试
机译:Weibull分布下单次注射装置的简单步进应力加速寿命试验的优化设计
机译:威布尔分布下的一站式设备测试具有多个应力因子的最佳恒应力加速寿命测试计划
机译:可靠性系统中的竞争风险模型,贝叶斯分析方法的威布尔分布模型
机译:生命分布在其下的平均寿命的统计寿命测试是两种参数的威布尔形式。
机译:基于高效响应分布的项目选择算法用于短时认知诊断计算机自适应测试
机译:校正:基于审查竞争风险数据的持续应力估算部分加速威布尔分布的生命试验