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Infrared intraband absorption detectors with etched 35 degrees mesa facets for vertically incident light

机译:带蚀刻的35度台面刻面的红外带内吸收检测器,用于垂直入射光

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摘要

Reports for the first time of GaAs/AlGaAs intraband absorption detectors that are able to detect vertically incident long-wavelength infrared light (8 mu m) through etched 35 degrees mesa facets. With 2 V bias voltage the authors obtained responsivities of 0.06 A/W at 77 K and 0.11 A/W at 40 K and dark current densities of 19 pA/ mu m/sup 2/ at 77 K and 0.24 pA/ mu m/sup 2/ at 40 K.
机译:首次报道了能够通过蚀刻的35度台面检测垂直入射的长波长红外光(8微米)的GaAs / AlGaAs带内吸收检测器。利用2 V偏置电压,作者在77 K时的响应度为0.06 A / W,在40 K时为0.11 A / W,暗电流密度为19 pA /μm / sup 2 /在77 K和0.24 pA /μm / sup时2 /在40 K下。

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