机译:Ge(001)衬底上组合外延Ge(001)薄膜的高分辨率X射线衍射研究
Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, Argonne, IL 60439, United States;
Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, Argonne, IL 60439, United States Argonne National Laboratory, 9700 S. Cass Ave., Argonne, IL 60439-4856, United States;
Department of Physics and Astronomy, University of North Carolina, Chapel Hill, NC 27599, United States;
Department of Physics and Astronomy, University of North Carolina, Chapel Hill, NC 27599, United States;
X-ray diffraction; crystal-truncation rods; combinatorial thin-film; strain;
机译:通过分子束外延在Si(001)和Ge(001)衬底上生长的SiGe外延层的结构研究:Ⅰ-高分辨率x射线衍射和x射线形貌
机译:通过MOCVD在GaAs(001)基材上生长的Ge(:Ga)薄膜的高分辨率X射线衍射和微拉曼散射研究
机译:高分辨率x射线衍射显示Si_(0.4)Ge_(0.6)/ Si(001)外延膜弛豫开始时出现的束错位错
机译:在“高温”中由原子氢处理制备的(001)GaAs底物上生长的“设备质量”立方GaN的高分辨率X射线衍射分析
机译:银(001)和银(111)上超薄外延铬和氧化铁膜的生长和结构:通过X射线光电子衍射和低能电子衍射完成的综合研究。
机译:衍射受限存储环上固体液体和气体的高分辨率共振X射线非弹性散射研究前景
机译:高分辨率x射线衍射揭示Si0.4Ge0.6 / Si(001)外延膜弛豫开始时的束错位错