机译:压电响应力显微镜研究BaTiO_3薄膜取向取向对纳米尺度极化的影响
Department of Materials Science and Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139;
机译:磁控溅射直接在Si(001)上沉积铁电BaTiO_3薄膜的压电响应力显微镜研究
机译:弛豫器0.7Pb(Mg_(1/3)Nb_(2/3))O_3-0.3PbTiO_3和0.9Pb(Mg_(1 / 3Nb_(2/3))O_3-0.1PbTiO_3的压电响应力显微镜纳米研究在铂和LaNiO_3电极上生长的薄膜
机译:压电响应力显微镜研究不同结构构型的铁电聚合物薄膜的铁电极化
机译:用压电响应扫描力显微镜检查外延PB(Zr,Ti)O_3薄膜偏振切换域壁速度和成核速率
机译:利用压电响应力显微镜对铁电薄膜的开关行为进行纳米研究。
机译:用二维压电响应力显微镜研究多晶BiFeO3薄膜的偏振转换
机译:压电响应力显微镜研究BaTiO3薄膜中取向对纳米尺度极化的影响
机译:用扫描力显微镜研究铁电薄膜偏振保持损耗的纳米尺度