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Mass transport and alloying during InN growth on GaN by molecular-beam epitaxy

机译:通过分子束外延在GaN上InN生长期间的质量传输和合金化

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摘要

During Stranski-Krastanov (SK) growth of InN on GaN by molecular-beam epitaxy, a mass transport is noted from the two-dimensional wetting layer and/or the surface excess metal adlayers to the SK islands when the excess nitrogen flux is used for deposition. The extent of mass transport depends on the material coverage. For growth under the excess indium flux condition, no such mass transport is observed.
机译:在通过分子束外延在GaN上InN的Stranski-Krastanov(SK)生长过程中,当使用过量的氮通量用于从二维湿润层和/或表面多余的金属层到SK岛的传质过程被注意到沉积。大众运输的程度取决于材料的覆盖范围。对于在过量的铟助熔剂条件下的生长,没有观察到这种质量传递。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2006年第22期|p.221916.1-221916.3|共3页
  • 作者单位

    Physics Department and HKU-CAS Joint Laboratory on New Materials, The University of Hong Kong, Pokfulam Road, Hong Kong, China;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用物理学;计量学;
  • 关键词

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