偏最小二乘校正用于X射线荧光光谱法同时测定不同价态的硫

摘要

本文用偏最小二乘法(PLS)对重叠严重的硫的价态(-2,0,+4,+6)双晶X射线荧光光谱进行了处理,同时计算出各种价态硫浓度。本文还将PLS与主成分回归进行了比较,表明PLS是一种较好的多元校正方法。