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采用钯分离技术测定高纯氦,氖中痕量氢

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利用金属钯或钯合金对氢气独特的渗透能力，在特殊的实验装置及一定的操作条件下，将Ｎｅ或Ｈｅ中Ｈ２定量转移到Ａｒ或Ｎ２气中，以气敏元件为检测器，实现对高纯Ｎｅ、Ｈｅ中痕量Ｈ２的测定，其检测限为０．１×１０＾－６

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来源
《低温与特气》 |1995年第2期|37-40|共4页
作者
赵敏; 姜俊;
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作者单位

不详;

不详;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类 TG115.314;
关键词
钯膜渗氢; 痕量氢分析; 气敏色谱;

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