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汤引生;
商洛学院物理系,陕西,商洛,726000;
γ射线; 拟和曲线; 电离室; 测厚原理;
机译:利用等效X射线能量测量双组分样品的质量厚度
机译:利用小角度X射线散射数据的傅里叶变换直接测量伊利石颗粒厚度
机译:基础设施维护管理的非破坏性检查设备开发使用超小型X射线和中子传感器:测量使用X射线边缘成像方法测量高精度管厚度
机译:利用X射线反射率的傅里叶变换厚度测量薄膜和多层的测量
机译:用于体外组织组成和厚度测量的新型放射线照相技术的发展
机译:软组织厚度射线照相测量:一种标记以评估总髋关节置换率的急性跨骨髓接触感染风险
机译:取决于起飞角度的X射线光电子能谱,二次离子质谱和扫描电子显微镜,用于确定工业铝箔上的钝化层的厚度和组成
机译:在Vulcan上使用Ge x射线激光器在薄铝箔上直接驱动印记的XUV射线照相测量
机译:利用x射线和γ射线的反向散射测量基体上涂层厚度的方法和装置
机译:用于X =射线二次辐射后向散射薄膜厚度测量的定位系统-使用带有相对于测量单元的X射线束引导的光的光系统进行定位,用于根据后向散射原理测量薄层的厚度
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