首页> 中文期刊> 《长春理工大学学报(自然科学版)》 >CMOS成像式亮度计的暗电流校准方法

CMOS成像式亮度计的暗电流校准方法

         

摘要

器件自身存在的暗电流,会导致CMOS成像式亮度计的亮度测量结果产生误差。因此,提出一种CMOS成像式亮度计的暗电流校准方法。通过分析不同程控参数下暗幅图像灰度值变化情况,确定成像式亮度计的程控参数;在此基础上,采集图像灰度值和标准亮度值,建立亮度测量模型。将校准后的成像式亮度计应用在手柄发光字符的亮度检测上,结果表明,成像式亮度计的亮度测量误差在5%以内,满足实际工业测量需求。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号