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塑封微电路在高可靠领域的应用、筛选与鉴定

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摘要

主要介绍了塑封微电路(PEM)在高可靠领域的应用,并总结了JPL和NASA实验室推荐的筛选与鉴定试验程序,提出了在高可靠领域使用PEM时应考虑因素,旨在为我高可靠领域应用PEM提供可借鉴的试验方法.

著录项

来源
《电子产品可靠性与环境试验》 |2007年第5期|48-51|共4页
作者
周军连; 王蕴辉; 唐云;
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作者单位

信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610;

信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610;

信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类大规模集成电路、超大规模集成电路;
关键词
塑封微电路; 筛选; 鉴定; 试验;

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