首页> 中文期刊> 《材料保护》 >基片偏压对直流反应磁控溅射CNx薄膜性能的影响

基片偏压对直流反应磁控溅射CNx薄膜性能的影响

         

摘要

采用直流反应磁控溅射方法,在不同偏压条件下,在硬质合金基片(YG8WC+8%Co)上沉积了氮化碳薄膜,并通过X光电子能谱仪、涂层附着力自动划痕仪和摩擦磨损试验机研究了CNx薄膜与基体的附着力及其摩擦学性能。结果表明,基片偏压对附着力和薄膜的摩擦学性能有一定的影响,在偏压为-100V时沉积的CNx薄膜摩擦系数较小,具有良好的减摩作用,对硬质合金的附着力最好。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号