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目录
第一章 绪论
1.1自旋电子技术研究背景及现状
1.2 非均匀磁性半导体磁性的研究
1.2.1 ZnO基磁性半导体
1.2.2 TiO2基磁性半导体
1.2.3 SnO2基磁性半导体
1.2.4 In2O3基磁性半导体
1.2.5 Cu2O基磁性半导体
1.3非均匀磁性半导体输运性质的研究
1.3.1磁电阻效应的研究
1.3.2反常霍尔效应的研究
1.4国内外研究所面临的问题
1.5本论文的主要工作
第二章 实验方法
2.1 FexTil-xOδ磁性半导体薄膜的制备
2.1.1 磁控溅射技术
2.2 形貌结构与成分分析
2.2.1 原子力显微镜
2.2.2 透射电子显微镜
2.2.3 X射线衍射仪
2.2.4 X射线光电子能谱
2.2.5 台阶仪
2.3 磁学与输运性质的测试
2.3.1 振动样品磁强计
2.3.2 物理性质测试系统
2.3.3 双电测四探针测试仪
2.3.4 超导量子干涉仪
第三章 非晶FexTi1-xOδ磁性半导体薄膜的结构、磁性和电输运特性
3.1非晶FexTi1-xOδ薄膜的微观结构与化学成分
3.2 非晶FexTi1-xOδ薄膜的电输运特性
3.3 非晶FexTi1-xOδ薄膜的磁电阻效应
3.4 非晶FexTi-xOδ薄膜的磁性质
3.5 本章小结
第四章 结论和展望
参考文献
发表论文和科研情况说明
致谢