Dept. of Comput. Sci. Eng., Nat. Chung-Hsing Univ., Taichung, Taiwan;
SPICE; boundary scan testing; leakage currents; BPTM; dynamic power reduction; leakage current; nanometer technology; power consumption; scan-based testing; size 22 nm; static power reduction;
机译:X-Filling可在基于扫描的高速测试中同时降低移位和捕获功率
机译:基于多周期扫描的测试的交换活动和静态测试压缩
机译:静态测试压缩,用于基于扫描的设计,以减少测试应用时间
机译:基于扫描测试的静态和动态测试功率降低
机译:用于基于扫描的统计时序缺陷测试的成本降低和测试质量控制。
机译:比较静态和动态情感识别测试:健康参与者的表现
机译:iFill:一种基于冲击的X填充方法,用于在基于速度扫描的测试中减少移位和捕获功率